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日本大冢電子MINUK光波動場三次元顯微鏡的技術解析

發(fā)布時間： 2025-07-15　　點擊次數(shù)： 27次

日本大冢電子（Otsuka）推出的MINUK光波動場三次元顯微鏡是一種先進的測量設備，它能夠對納米級透明異物和缺陷進行精確的測量和評價。該設備的一個顯著特點是其非破壞性、非接觸性、非侵入性的測量方式，這使得它在需要保持樣品完整性的應用中非常有用。MINUK能夠在單次采樣中迅速獲取深度方向的信息，無需對焦即可進行高速測量。
MINUK的技術核心在于其光波動場技術，它允許設備在單次測量中獲取所有深度信息，與傳統(tǒng)顯微鏡相比，這大大縮短了測量時間。此外，MINUK的測量范圍廣泛，能夠處理從透明薄膜到半導體晶圓等多種樣品。該設備還能夠在不染色的情況下直接觀察細胞等透明物質(zhì)，這為生物醫(yī)學研究提供了便利。
MINUK的操作簡便，用戶可以通過軟件在測量后任意聚焦于想要觀察的深度表面，這為分析提供了極大的靈活性。此外，設備還具備高速掃描能力，可以在任意面上進行測量，輕松決定測量位置。MINUK的這些特點使其在材料科學、半導體制造、生物醫(yī)學研究等領域中有著廣泛的應用前景。

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